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AM7515MT4A Dino-lite 数码显微镜

Dino-Lite EDGE系列

AM7515MT4A 属于 Dino-Lite Edge 系列 500 万像素手持 USB 数码显微镜,CMOS 传感器分辨率 2592×1944,USB2.0 即插即用,光学放大倍率 415×~470×,短工作距离高倍率光学镜头。搭载 AXI 轴向同轴白光照明,配合 FLC 灵活四象限 LED 分区调光,可单独或混合开启明场、暗场模式,有效抑制高反光平面样品眩光,清晰呈现细微划痕、镀层、线路缺陷;支持 AMR 自动倍率读取、MicroTouch 一键触控抓拍、倍率锁定、图像标定测量,铝合金金属机身,标配 N3C 可更换前盖,可选配 WF‑10 无线适配器升级无线使用,高倍率观测推荐搭配精密支架保证稳定性。
兼容 Windows、macOS 系统,配套 DinoCapture / DinoXcope 软件,支持拍照、录像、标注、尺寸测量。广泛用于半导体晶圆、芯片引脚、精密五金镀层、PCB 表面、微小元器件等工业质检、来料检验、实验室微观观测。

Dino-Lite EDGE系列

1、概述:


   Dino-lite Edge系列是使用新一代光学镜头为专业需求所研发的一款手持式数码显微镜,大幅度增加了成像解析度,是拍摄的图片更加清晰;在软件预览窗口的右下方设计了一个焦距确认显示条,能自动检测是否已达到最佳焦距,已达到最清晰的成像效果;

 

2、主要特点:


   全视野高清晰设计,可拆卸式前罩,配备多种多用途的不同光学前罩,自带专业电脑软件,触摸式拍照录像,实际距离测量及绘图,数据导出并保存至Excel表中;金属外壳,可自动读取放大倍率(AMR);增加LED灯控制功能(可控制开关2/4/6/8颗LED灯及调节LED灯亮度)


3、产品规格:


型号

AM7515MT4A Dino-lite Edge

接口类型

USB 2.0

分辨率

2580*1944

像素

5.0mp

帧数

30fps

放大倍率

415x-470x

镜头

Color CMOS

       存储格式

Image: BMP, GIF, PNG, MNG, TIF, TGA, PCX, WBMP, JP2, JPC, JPG, PGX, RAS, PNM

Movie: WMV, FLV, SWF

微触按钮

可通过触摸拍照录影

光源

内置8颗白色led灯

偏光功能

无

测量功能

有

校正功能

有

操作系统

Windows10, 8 ,7 ,Vista, XP  (只适用于Windows系统)

产品规格

10.7cm (H) x 3.2cm (D)

产品重量

139(g)

包装尺寸

21.5cm(L) x 18cm(W) x 7cm(H)

保修期

一年

生产地

中国台湾

辅助配件

软件光盘、软件使用说明书、pc材质校正片(精确0.1mm)、收纳袋、7个前罩、魔术贴                                                                          

7个前罩分别是: 

N3C-O开放式前罩:可在70x、175x接触聚焦观测 

N3C-E延伸开放式前罩:可在200x接触聚焦观测                                                   

N3C-L长距离前罩:可在25x、45x低倍数接触观测,前端可配其他前罩使用

N3C-C封闭式前罩:可进行液体观测,可保护内部镜头                                           

N3C-D柔光式前罩:可减少反射光线,使用与高反光的物体                               

N3C-S黑色半前罩:增加成像立体感,适合凹凸物体观测

N3C-D2乳白扩散前罩:可对LED灯光线进行扩散

4、应用领域:

Dino-Lite手持式数码显微镜可以被广泛应用于学术研究、科研机构、农林业研究 产品质量检测和鉴定、刑事鉴定、珠宝文物鉴定修复、数码教学、生物实验、阅读辅助等领域,具体包括:PCB电子制造业、光电、SMT、连接器制造、电缆、光纤、汽车工业、模具行业、液晶检测、电镀行业、管道裂痕检测、印刷造纸业纺织纤维、玻璃陶瓷材料、珠宝文物鉴定、齿轮检测、焊接切割检查、皮革树脂、粉尘等检查。


AM7515MT4A Dino-lite 数码显微镜
AM7515MT4A 属于 Dino-Lite Edge 系列 500 万像素手持 USB 数码显微镜,CMOS 传感器分辨率 2592×1944,USB2.0 即插即用,光学放大倍率 415×~470×,短工作距离高倍率光学镜头。搭载 AXI 轴向同轴白光照明,配合 FLC 灵活四象限 LED 分区调光,可单独或混合开启明场、暗场模式,有效抑制高反光平面样品眩光,清晰呈现细微划痕、镀层、线路缺陷;支持 AMR 自动倍率读取、MicroTouch 一键触控抓拍、倍率锁定、图像标定测量,铝合金金属机身,标配 N3C 可更换前盖,可选配 WF‑10 无线适配器升级无线使用,高倍率观测推荐搭配精密支架保证稳定性。
兼容 Windows、macOS 系统,配套 DinoCapture / DinoXcope 软件,支持拍照、录像、标注、尺寸测量。广泛用于半导体晶圆、芯片引脚、精密五金镀层、PCB 表面、微小元器件等工业质检、来料检验、实验室微观观测。
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